名称：数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计
作者:（美）AlfredL.Crouch
出版社:机械工业出版社
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数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计内容简介
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数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计部分内容
本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对今朝在测试中遇到的实际问题，从技术有产物的投资成本上论述嵌入内核和soc的测试问题。他在若干IEEE出书物、E-Timers以及专业杂志颁发过年夜量文章，是IEEE会员。
Alfred L. Crouch结业于肯塔基年夜学，获电气工程学硕士学位（MSEE）。他曾先后供职于德州仪器、数字设备公司以及摩托罗公司，持久从事测试设计、测试自动化以及计较机辅助测试的工作。
本书适合作为高档院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书，也可供相关专业技术人员参考。他拥有9个美国专利，主要是测试相关的发现专利，如逻辑内建自测试、存诸器内建自测试、扫描结构、扫描优化、低功耗测试以及全速扫描。赠品类书籍《数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计》电子书推荐。本站的pdf电子书《数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计》主要是由网络收集整理来的，最终著作权仍归属于原书的作者（美）AlfredL.Crouch和出版商。如果您喜欢这本书，请多多支持我们的图书出版事业，让辛苦写书的作者得到应有的回报。在此也要感谢机械工业出版社，感谢出版社为《数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计》的出版所做的工作。本站只提供图书的试读版，同时欢迎更多的爱好读书的朋友来电子书下载网来分享更多好看的pdf电子书，免费下载您所需要的电子书籍。最后衷心感谢您下载《数字集成电路嵌入式内核系统的测试设计》pdf版免费电子书。
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