名称：电子元器件可靠性技术教程
作者:付桂翠陈颖张素娟高成孙宇锋
出版社:北京航空航天大学出版社
格式：pdf,txt 
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电子元器件可靠性技术教程内容简介

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电子元器件可靠性技术教程部分内容

本书是高档工科院校“质量与靠得住性”专业本科生教材，主要围绕元器件靠得住性技术这一主题，针对元器件的固有靠得住性和使用靠得住性的保证技术进行了分类介绍。在固有靠得住性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、靠得住性试验技术等。在使用靠得住性保证中主要介绍了元器件选用控制、使用设计方法、静电防护、靠得住性筛选、破坏性物理分析及失效分析技术等。
　　本书也可供年夜专院校其他专业本科生、研究生使用及工程技术人员学习和参考。本书在编写过程中强调了理论与工程实践相结合，不但具有系统的技术性，还具有较强的工程实用性，并对一些前沿的元器件靠得住性技术，如mems器件的靠得住性现状及失效机理等进行了简要介绍。
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