名称：数字集成电路设计验证
作者:李晓维吕涛；李华伟；李光辉
出版社:科学出版社
格式：pdf,txt
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数字集成电路设计验证内容简介
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数字集成电路设计验证部分内容
本书是周全论述数字集成电路设计验证方法的学术著作，汇集了自2000年以来中国科学院计较研究所(以下简称中科院计较所)在数字集成电路设计验证方法学研究中取得的自主立异的重要研究成果和结论。第二部分(第6～9章)鼓励生成，针对寄存器传输级的鼓励生成问题，从故障模子和覆盖率导向两个角度，论述肯定性和非肯定性的鼓励生成方法。
全书共15章，其中技术内容可分为三年夜部分。第一部分(第2～5章)量化评估，从可不雅测性信息和发现设计错误的能力两个角度，论述数字集成电路设计验证的量化评估方法。内容涉及数字集成电路设计验证的三个重要方面：量化评估、鼓励生成和形式化验证。通信免费下载电子书《数字集成电路设计验证》的作者李晓维吕涛；李华伟；李光辉和科学出书社为本书的写作出书都付出了很多汗水。第三部分(第10～14章)形式化验证，从提高处置速度的角度，论述形式化验证中的等价性检验方法和模子检验方法。
本书内容涉及数字集成电路设计验证的三个主要方面：量化评估、鼓励生成和形式化验证。主要包括寄存器传输级(rtl)电路建模、基于可不雅测性的覆盖率评估方法、设计错误模子；基于故障模子的鼓励生成、基于rtl行为模子的鼓励生成、覆盖率驱动的鼓励生成；基于可满足性的等价性检验、包含黑盒电路的形式化验证，以及不可满足问题。
全书图文并茂，论述了作者及其科研团队自主立异的研究成果和结论，对致力于数字集成电路设计验证方法研究的科研人员(尤其是在读研究生)，具有较年夜的学术参考价值，也可用作集成电路专业的高档院校教师、研究生和高年级本科生的讲授参考书。
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