名称:半导体探测器X射线能谱仪通则
作者:合者:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
出版社:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
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半导体探测器X射线能谱仪通则内容简介
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半导体探测器X射线能谱仪通则部分内容
pdf电子书介绍《半导体探测器X射线能谱仪通则》作者合者:中华人平易近共和国国家质量监视检验检疫总局中国国家尺度化办理委员会和中华人平易近共和国国家质量监视检验检疫总局为本套书的出书付出了许多哟!。本尺度的附录a、附录b为规范性附录。 《半导体探测器x射线能谱仪通则》内容简介:本尺度同等采用iso 15632:2002《半导体探测器x射线能谱仪通则》。本尺度由全国微束分析尺度化技术委员会提出。本尺度由全国微束分析尺度化技术委员会归口。
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