名称：太阳能光伏产业:硅材料检测技术
作者:未知
出版社:化学工业出版社
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太阳能光伏产业:硅材料检测技术内容简介
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太阳能光伏产业:硅材料检测技术部分内容
本书主要介绍了半导体硅材料常规电学参数的物理测试方法、检测晶体缺点的化学腐蚀法、半导体晶体定向法、硅单晶中氧和碳含量的测定方法。
④可以显示晶体中的杂质条纹、微应力区，以及晶体弯曲、损伤等情况。太阳能光伏财产:硅材料检测技术》在线试读。txt电子书免费下载《太阳能光伏财产:硅材料检测技术》和化学工业出书社为本套书的出书付出了许多哟。
为了确保测试数据的准确性，对硅材料常规物理参数测试的测准条件作了详细的分析介绍。对先进的测试技术作了一般的介绍。本书是硅材料技术专业的焦点教材。
本书可作为高职高专硅材料技术及光伏专业的教材，同时也可作为中专、技校和从事单晶硅生产的企业员工的培训教材，还可供相关专业工程技术人员学习参考。
第7章其他物理检测仪器简介
7.1X射线形貌技术
7.1.1X射线形貌技术的特点
将X射线用于不雅察晶体中缺点的方法一般称为X射线形貌技术，也称为X射线显微术。它与其他不雅察晶体中缺点的方法相比力有如下特点。
①用X射线形貌技术检查晶体或器件中的缺点时，不需要破坏样品，样品经检查后可继续使用。
②可以或许测定晶体中位错的类型、走向，还能测定其柏格斯矢量。
③可以或许一次拍摄年夜块晶体中所有的缺点，并能拍立体照片，从而推测有缺点在晶体中的空间位置。本书还介绍了多晶硅中基硼、基磷含量的检验方法、纯水的制备及高纯分析方法。
由于X射线形貌技术有以上的优点，通常在生产关键性工艺中用来直接检测晶片中缺点的情况。其缺点是分辨率较差、照相时间长、操作手续复杂。
7.1.2X射线形貌技术的基来历根基理和方法
X射线形貌技术的实验方法有以下几种。
①透射形貌法；
②反射形貌法；
③异常透射法；
④双晶光谱仪法。
从基来历根基理来说，透射形貌法和反射形貌法都属于消光衍射法，只是前者利用透过晶体的X射线照相，后者利用反射X射线照相。
7.1.3X射线形貌技术的应用
不雅察位错
用X射线形貌技术不雅察晶体中的位错是相当有效的，晶体除抛光外无需经过特殊处置。从晶锭中切下的纵剖面样品上，可以直接利用X射线形貌法不雅察其中的位错，通常采用的纵剖面为{211}或{110}晶面，衍射面一般选择为{220}晶面。本站的pdf电子书《太阳能光伏产业:硅材料检测技术》主要是由网络收集整理来的，最终著作权仍归属于原书的作者未知和出版商。如果您喜欢这本书，请多多支持我们的图书出版事业，让辛苦写书的作者得到应有的回报。在此也要感谢化学工业出版社，感谢出版社为《太阳能光伏产业:硅材料检测技术》的出版所做的工作。本站只提供图书的试读版，同时欢迎更多的爱好读书的朋友来电子书下载网来分享更多好看的pdf电子书，免费下载您所需要的电子书籍。最后衷心感谢您下载《太阳能光伏产业:硅材料检测技术》pdf版免费电子书。
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