名称：微电子器件可靠性
作者:未知
出版社:西安电子科技大学出版社
格式：pdf,txt 
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微电子器件可靠性内容简介

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微电子器件可靠性部分内容

　　 本书主要讨论硅基器件(分立与集成)的靠得住性。部分章末给出了温习思考题，以便于讲授。全书共分9章，内容包括概述、靠得住性的数学根本、失效物理、失效分析、靠得住性设计、工艺靠得住性、使用靠得住性、靠得住性试验、靠得住性办理等。
　　 本书为高档学校电子信息类微电子技术专业硕士研究生教材，也可作为相应专业高年级学生及从事微电子器件靠得住性工作的工程技术人员的阅读参考书。由西安电子科技年夜学出书社出书《微电子器件靠得住性》电子书籍下载和西安电子科技年夜学出书社为本书的写作出书都付出了很多汗水。
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